badania mikrostruktury, składu chemicznego i fazowego materiałów metodą skaningowej mikroskopii elektronowej z zastosowaniem spektrometrów EDS i WDS w wysokiej i obniżonej próżni, pozwalające na przeprowadzenie mikroanalizy jakościowej i ilościowej pierwiastków, od boru (B) do uranu (U) wraz z przygotowaniem próbek do badań (zgłady, trawienie chemiczne, trawienie termiczne, ścieniacz jonowy)
badania składu chemicznego metodą μXRF: oznaczane pierwiastki: Sb, Sn, Pd, Ag, Ru, Mo, Nb, Zr, Bi, Pb, Se, W, Zn, Cu, Ni, Co, Fe, Mn, Cr, V, Ti, Al, S, P, Si, In, Cd, Rh, Au, Pt, Ir, Ga
pomiary wielkości cząstek metodą DLS materiałów sypkich na sucho i w zawiesinie 0,1−2000 μm
analiza ziarnowa, pH, strata prażenia LOI, wskaźnik pęcznienia, zawartość węgla błyszczącego, zawartość części lotnych
badania właściwości technologicznych mas na osnowie regeneratu: przepuszczalność, płynność, osypliwość, zgęszczalność
badania parametrów wytrzymałościowych mas na osnowie regeneratu: wytrzymałość na zginanie, rozciąganie, ścinanie, rozciąganie w strefie przewilżonej
wyznaczanie gęstości metodą Archimedesa lub za pomocą piknometru helowego
badania dylatometryczne w zakresie 180–2800°C, w tym optymalizacja parametrów procesu spiekania, wyznaczanie temperatury spiekania, wyznaczanie rozszerzalności liniowej materiałów, wyznaczanie skurczu materiałów, wyznaczanie punktu mięknięcia szkła, analiza procesów endo- i egzotermicznych w badanych materiałach, krzywe c-DTA materiałów; wyznaczanie temperatur krytycznych i ciepła przemian; konstrukcja wykresów CHT, CTPc i CTPi
termowizyjne badania profilu temperaturowego (emitowanego ciepła)
oznaczanie temperatury mięknienia piasków, wosków oraz ilości wydzielonych gazów
