Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Scios FEG
wyposażony w działo elektronowe z termiczną emisją polową
wraz z dodatkowym wyposażeniem w systemy mikroanalizy rentgenowskiej (EDS)
oraz dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Oferta:

badania akredytowane ZAKRES AKREDYTACJI AB_494

badania metalograficzne

• mikroskopia świetlna
  -badania makro i mikrostruktury metali, stopów, kompozytów, materiałów ceramicznych i ich połączeń,
  materiałów litych
  -interpretacja obrazów mikrostruktury oraz identyfikacja składników fazowych i mikrostrukturalnych
  -obserwacje powierzchni szorstkich
• mikroskopia elektronowa
  -wizualizacja topografii powierzchni próbki i obserwacja morfologii składników mikrostruktury
  -określenie składu chemicznego w mikroobszarach
• badania adhezyjne
  -pomiar twardości instrumentalnej i twardości poszczególnych składników strukturalnych,
  rozkład twardości
  -proces dyfuzji w metalach i ich stopach
  -wyznaczanie modułu elastyczności, pracy plastycznej, elastycznej, płynięcia materiału
  -badanie odporności na kruche pękanie
  -badanie odporności powłok na zarysowania

badania właściwości mechanicznych

• statyczna próba rozciągania, ściskania, zginania w temperaturze otoczenia
  (możliwość badania w temperaturach obniżonych i podwyższonych)
• próby udarności metodą Charpy‘ego w temperaturze otoczenia i obniżonej
• pomiar twardości metodą Brinella, Rockwella i Vickersa
• badania dla potrzeb certyfikacji wyrobów (badania zwieńczeń wpustów i studzienek kanalizacyjnych)

 

Wielofunkcyjna platforma badawcza
do oznaczania właściwości mechanicznych materiałów litych oraz właściwości powłok i warstw
w skali nano i mikro
wyposażona w głowicę nano i mikrotwardościomierza oraz głowicę scratch testera
pomiar twardości instrumentalnej zależność siły obciążającej w funkcji głębokości penetracji
pomiar kontrolowanego zarysowania powierzchni próbki diamentowym wgłębnikiem
pod liniowo narastającym obciążeniem