Dyfrakcja Rentgenowska
Oferujemy kompleksową analizę struktury substancji krystalicznych. Duża precyzja pomiaru kąta (0,013°) połączona z detektorem PIXCEL3D pozwala wykonać precyzyjne i dobrej jakości dyfraktogramy.
Przyrząd rejestruje dyfrakcję promieniowania rentgenowskiego padającego na materiał krystaliczny, a poprzez pomiar intensywności w zależności kątowej pozwala na kompleksową analizę jakościową, ilościową i fazową. Posiadamy kamery wysokotemperaturowe marki AntonPaar, które pozwalają na badania materiału w podwyższonych temperaturach. Dodatkowo w oparciu o dane pomiarowe możliwe jest wnioskowanie o teksturze i naprężeniach resztkowych w strukturze badanej substancji krystalicznej.
Możliwości badawcze:
- badania jakościowe i ilościowe
- badania w szerokim zakresie kątowym
- pomiary tekstury krystalograficznej i naprężeń resztkowych
- badania wysokotemperaturowe do 2000 °C w próżni/helu
- wyznaczenie wielkości krystalitów
- badania niskokątowe (Grazing Incidence X-Ray Diffraction – GIXRD)
Próbki:
- proszkowe
- materiały o wymiarach 10 mm × 50 mm × 50 mm

Dyfraktometr rentgenowski Empyrean Panalytical
Wyposażenie i specyfikacja:
- lampy: Cu, Co
- detektory: proporcjonalny, PIXCEL3D
- aktualna baza danych PDF5+ 2024
Poznaj pozostałą ofertę badań
Kontakt
W razie pytań/wątpliwości zapraszamy do kontaktu.
Dyrektor Centrum Materiałów i Technologii Wytwarzania
dr inż. Rafał Nowak
e-mail: rafal.nowak@kit.lukasiewicz.gov.pl
tel. +48 12 26 18 1346