Mikroskopia
Oferujemy badania obejmujące:
- mikroskopię świetlną pozwalającą na interpretację obrazów mikrostruktury wraz z identyfikacją faz krystalicznych
- wysokorozdzielczą skaningową mikroskopię elektronową SEM z analizą EDS/EBSD w mikroobszarach w wysokiej lub obniżonej próżni
Realizujemy badania makro i mikrostruktury metali i ich stopów, kompozytów, powłok, materiałów litych, ceramicznych i ich mieszanek.
Mikroskopia optyczna
Prowadzimy badania metalograficzne z wykorzystaniem mikroskopii optycznej obejmujące
badania mikrostruktury metodą porównawczą w obszarze objętym akredytacją
- klasyfikacja wydzieleń grafitu wg PN-EN ISO 945-1/ 2019
- charakterystyka mikrostruktury osnowy metalowej wg PN-75/H-04661
Dodatkowo stosujemy różne techniki mikroskopii świetlnej do interpretacji obrazów mikrostruktury oraz identyfikacji składników fazowych.
Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
Wraz z badaniami SEM oferujemy przygotowanie próbek obejmujące w przypadku materiałów słabo- lub nieprzewodzących napylanie warstwy metalicznej. Specjalizujemy się w badaniu struktur metalicznych, dla których przygotowanie próbek obejmuje wytworzenie zgładu poprzez cięcie, szlifowanie, trawienie chemiczne, trawienie termiczne i polerowanie.
Możliwości badań mikrostruktury:
- wizualizacja topografii powierzchni próbki i obserwacja morfologii
- uwidocznienie charakterystycznych cech jak kontrast topograficzny i materiałowy
- mapowanie EDS stężeń pierwiastków w mikroobszarach, punktach i wzdłuż linii prostej
- dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych (SEM/EBSD)
- analiza sieci krystalicznej w wybranym obszarze materiału
- analiza fazowa: identyfikacja faz
- analiza tekstury krystalograficznej;
badania rozkładu granic ziaren (kąt dezorientacji) - badania stereologiczne: analiza udziału faz, wielkości, kształtu i rozmieszczenia.
Orientacja krystalograficzna
Skład fazowy
- jednoczesny pomiar orientacji krystalograficznej oraz składu chemicznego (EBSD+EDS)
Aparatura
Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy, wyposażony w dwie kolumny:
- elektronową z katodą FEG (zimna emisja polowa wspomagana termicznie)
- jonową z działem LMIS emitującym skupioną wiązkę jonów galu
Podstawowe parametry techniczne:
- Działo elektronowe FEG: średnica źródła 15 nm
- Napięcie przyśpieszające: 200 eV – 30 keV
- Prąd wiązki: 1 pA – 400 nA
Zdolność rozdzielcza:
- SE: 1 nm (dla 20 keV) – 1.6 nm (dla 1 keV)
- BSE: ~4 nm
Dysponujemy również mikroskopem Jeol JSM 6460LV wyposażony w detektor LVD do pracy w warunkach niskiej próżni, rejestrujący bezpośrednio sygnał elektronów wtórnych (SE).
Poznaj pozostałą ofertę badań
Kontakt
W razie pytań/wątpliwości zapraszamy do kontaktu.
Kierownik Działu Laboratoriów
Beata Czawa
e-mail: beata.czawa@kit.lukasiewicz.gov.pl
tel. +48 12 26 18 176 / kom. +48 12 26 18 299
