Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Scios FEG
wyposażony w działo elektronowe z termiczną emisją polową
wraz z dodatkowym wyposażeniem w systemy mikroanalizy rentgenowskiej (EDS)
oraz dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)
Oferta:
badania akredytowane ZAKRES AKREDYTACJI AB_494
badania metalograficzne
- mikroskopia świetlna
-badania makro i mikrostruktury metali, stopów, kompozytów, materiałów ceramicznych i ich połączeń,
materiałów litych
-interpretacja obrazów mikrostruktury oraz identyfikacja składników fazowych i mikrostrukturalnych
-obserwacje powierzchni szorstkich - mikroskopia elektronowa
-wizualizacja topografii powierzchni próbki i obserwacja morfologii składników mikrostruktury
-określenie składu chemicznego w mikroobszarach - badania adhezyjne
-pomiar twardości instrumentalnej i twardości poszczególnych składników strukturalnych,
rozkład twardości
-proces dyfuzji w metalach i ich stopach
-wyznaczanie modułu elastyczności, pracy plastycznej, elastycznej, płynięcia materiału
-badanie odporności na kruche pękanie
-badanie odporności powłok na zarysowania
badania właściwości mechanicznych
- statyczna próba rozciągania, ściskania, zginania w temperaturze otoczenia
(możliwość badania w temperaturach obniżonych i podwyższonych) - próby udarności metodą Charpy‘ego w temperaturze otoczenia i obniżonej
- pomiar twardości metodą Brinella, Rockwella i Vickersa
- badania dla potrzeb certyfikacji wyrobów (badania zwieńczeń wpustów i studzienek kanalizacyjnych)
Wielofunkcyjna platforma badawcza
do oznaczania właściwości mechanicznych materiałów litych oraz właściwości powłok i warstw
w skali nano i mikro
wyposażona w głowicę nano i mikrotwardościomierza oraz głowicę scratch testera
pomiar twardości instrumentalnej zależność siły obciążającej w funkcji głębokości penetracji
pomiar kontrolowanego zarysowania powierzchni próbki diamentowym wgłębnikiem
pod liniowo narastającym obciążeniem